第六届集创赛——曾益慧创杯

曾益慧创杯

一、赛题方向：OP-AMP芯片的设计验证和测试

二、参赛组别： 仅限A组

三、赛题内容

赛题针对集成电路的测试方向，整个赛题覆盖集成电路Workflow中各环节的验证和测试应用。初赛阶段，参赛者需要在EDA工具中完成指定参数指标的OP-AMP芯片的设计并完成Pre-silicon Verification工作，根据提交的芯片设计和设计验证报告评分晋级分赛区决赛；分赛区阶段，参赛者拿到的OP-AMP芯片样片，在规定时间内现场完成测试电路的搭建，并用IECUBE-3100测试平台对芯片完成Post-silicon Validation工作，根据现场的测试电路搭建以及测试结果评分晋级全国总决赛；全国总决赛阶段，参赛者拿到含有OP-AMP芯片样片的Load Board，现场完成芯片量产测试程序开发，实现芯片的自动化测试，根据现场的量产测试程序以及芯片的自动化量产测试结果评出奖项。

四、初赛环节

完成OP-AMP的设计和Pre-silicon Verification。

对于OP-AMP芯片的设计和验证要求如下：

1. 设计指标：

1) 负载电容：CL = 10pF

2) 相位裕度：60°

3) 开环增益（低频）：>60dB

4) 共模输入范围：>1V

5) 输出摆幅（峰峰值）：>1.8V

6) 电源电压：3.3V

7) 压摆率：10V/μs

8) 直流功耗：<1mW

9) 单位增益带宽：>5MHz

10) 输出信号：单端输出

2. EDA设计工具不限制，基于Multisim、Cadence工具或其他工具均可以

3. 要求基于EDA设计工具完成设计后，还需进行仿真验证工作，给出仿真验证结果与设计指标的对比分析

4. 要求提交该OP-AMP芯片的设计源文件以及设计和验证报告（Word文档，不限格式）

五、分赛区决赛环节

参赛者拿到OP-AMP芯片样片，在规定时间内现场完成测试电路的搭建，并用IECUBE-3100测试平台对芯片完成Post-silicon Validation。

1. 分赛区决赛环节的说明：

1) 现场提供搭建OP-AMP芯片、搭建电路所需的分立元器件、必备线缆和IECUBE-3100平台；

2) 现场比赛时长2个小时；

六、决赛环节

参赛者拿到含有OP-AMP芯片样片的Load Board，现场基于IECUBE-3100和软件开发环境，完成OP-AMP芯片量产测试程序开发，实现芯片的自动化测试。

1. 决赛环节的说明：

1) 测试系统现场已经搭建好（包括测试对象OP-AMP芯片），参赛队伍在此基础上进行开发即可。测试硬件平台基于IECUBE-3100实现，测试软件框架基于LabVIEW实现；

2) 现场比赛时长2个小时；

七、评分标准：

1. 初赛阶段评分依据

1) 芯片的设计源文件的实现情况

2) 仿真验证结果与设计指标的对比分析

3) 设计和验证报告撰写情况

4) 初赛评分标准细则

2. 分赛区决赛和全国总决赛阶段评分依据

1) 现场硬件搭建、测试结果和测试程序的编写等情况

2) 测试程序的运行情况

（请参赛团队务必添加所报名杯赛的答疑群中，以便及时获取杯赛最新通知及进展，群号码及入群方式：点击查看）