参加NI测试杯，成为集成电路“全栈工程师”

集成电路设计所需十八般武艺中，有哪一种是行走江湖必不可少的基本功但你仍然一无所知的？这便是所有设计都需要的测试大法。

测试是集成电路设计的重要环节。精确的测试结果，快速的Debug方法，直接决定了芯片Time-To-Market的效率。

Digital IC、Analog IC、RFIC，各位IC designer奋斗在设计一线，不断的设计出速度更快、功耗更低、面积更小的芯片。每一次芯片流片回来，工程师的心情跌宕起伏：仿真很“丰满”，测试很“骨感”。

管脚信号不对，what?

输出电压偏高，what?

性能偏了10dB, what?

所有这些情况，大家可曾想过，有可能并不是芯片本身的问题，而是:

测试方法和测试工具的问题！

想了解和学习集成电路测试的实战方法和技巧吗？快来参加“NI测试杯”吧！与全球测试测量行业的领导者一起揭开集成电路测试的秘密！

对于立志从事集成电路设计的同学来说，测试方面的知识和能力是让你脱颖而出的独门武器。测试不仅让你的设计成为一个完整闭环，成为集成电路的“全栈工程师”，同时对于测试的深刻理解也能反过来指导设计工作，提升设计的效率和成功率。

成为一名测试工程师也是不错的职业选择，随着测试成本的增加，可测试设计在未来的集成电路设计活动中将具有突出地位，在未来的设计活动中会有20%的测试人员。相对于目前的市场需求需求量来说，测试工程师缺口巨大。从测试工程师开始，你将来能够成为高级测试工程师，测试经理，测试主管。
      为帮助中国集成电路的未来从业者在集成电路测试这一领域占得先机，2018年大赛与美国国家仪器(NI)有限公司携手合作，面向参赛的本科生设立了国内第一个集成电路测试方向的杯赛——NI测试杯。本杯赛将基于NI的先进测试仪器和专为测试、测量而设计的数据采集和仪器控制平台LabVIEW。只要你有集成电路设计的基础知识就可以参赛，通过这个杯赛，你可以学习掌握集成电路测试的原理和方法，并可利用NI为杯赛所搭建的硬件平台，在分区赛和总决赛中现场学习和操作测试仪器，完成自己的项目。

选择其他杯赛的参赛同学也有参与本次测试赛事的机会。NI和大赛特别设置“测试单项杯”，只要你在自己的设计中考虑可测性设计，并完成所设计对象的测试方案设计就可以参加测试单项赛。企业将安排测试领域专家对你的方案进行评审和指导，优秀方案可获得NI测试单项奖。

掌握测试知识和技能，成为集成电路“全栈工程师”，让你的集成电路职业生涯与众不同。你还在等什么，来参加NI测试杯赛吧！

附：NI公司和赛题介绍：

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）自1976年成立以来，一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台，有助于加速原型系统的开发。通过图形化系统设计平台，包括高效的图形化开发软件LabVIEW，以及高性价比的模块化硬件，在整个工业界，NI已经帮助各领域的工程师不断创新，为遍布全球各地的35000家不同的客户提供多种应用选择，在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。在半导体行业，NI的产品覆盖了半导体产业从设计到生产的几乎全部流程，为业内的设计室、晶圆厂、封测厂、高校和研究机构提供了非常有力的技术支撑，为他们提供可扩展的解决方案来应对成本、设计和器件挑战。

2018年NI杯的赛题是以ADC芯片测试应用为背景，要求参赛者基于NI电路仿真软件Multisim、印制电路板设计软件Ultiboard和硬件测试仪器平台，实践ADC芯片从设计仿真、原理实现到产品实测的全流程，可以帮助参赛师生了解和掌握集成电路测试技术、提升测试设备的应用和开发能力。

2018年NI单项奖的赛题要求参赛者在项目设计中考虑可测性设计，基于NI半导体测试软硬件平台并完成所设计对象的测试方案设计与验证，可以帮助参赛师生了解和掌握半导体测试技术，无论学生所学的是数字或是模拟方向，都会为将来从事的相关工作带来巨大优势。

赛题详情请点击（http://univ.ciciec.com/col.jsp?id=162）