第十届集创赛集成电路芯创成果方向-产业课题池合集

第十届集创赛集成电路芯创成果方向产业课题池合集

课题目录：

课题1：基于语言大模型的智能ATE测试开发与诊断平台

课题2：集成电路测试智能教学助手开发

课题3：高精度ADC芯片动态参数分析与校准系统

课题4：高速数字接口亚纳秒级时序测量诊断系统

课题5：高速比较器测试系统

课题6：JESD204串行接口测试与高速转接模块设计

提醒：

后文为各课题详细要求，如有新增将持续更新。

课题命题企业已针对课题1-6做了讲解介绍，视频见赛题钉钉群。

课题1：基于语言大模型的智能ATE测试开发与诊断平台

一、课题题目

基于语言大模型的智能ATE测试开发与诊断平台

二、课题针对对象

年级要求：在校本科生、研究生

专业要求：电子信息工程、微电子科学与工程、计算机科学与技术、人工智能等与课题相关专业

其他要求：具备团队协作能力，拥有集成电路测试、软件开发、AI模型应用等相关基础理论知识和实践经验者优先；鼓励跨专业组队参赛

三、课题任务

1、课题背景：传统集成电路测试开发依赖人工查阅数百页数据手册、手动设计硬件接口电路、编写数千行测试代码及繁琐调试，存在效率低、容错性差、经验难以继承等问题。随着人工智能技术发展，本课题借助AI大语言模型、数字孪生与集成电路测试技术，重构测试全链路，实现从芯片规格书到自动测试报告生成的全流程智能化，破解行业痛点。

2、课题内容：

（1）基于LLM的测试规范（TestPlan）自动化抽取：利用大语言模型解析芯片手册，自动识别管脚功能（PinDefinition）、测试向量pattern、直流参数及交流时序；AI自动根据芯片手册参数推荐ATE板卡及量程（如针对40V击穿测试自动选择合适的VI源表模块的±50V量程等）。

（2）智能资源映射与DUT原理图辅助设计：AI根据芯片引脚需求，自动生成测试资源接口与芯片管脚的逻辑映射表；针对运放测试的精密运放环路或数字测试的电平转换，自动生成包含继电器控制的负载板原理图设计建议。

（3）基于RAG架构的测试程序（TestProgram）智能生成：构建基于《STS8200S函数编程手册》的检索增强生成（RAG）系统；工程师通过自然语言描述（如“测量LDO在1A脉冲下的压差”），系统自动调用VI源表板卡的1A脉冲量程API及硬件跳变值捕获功能代码；在工控机平台上构建虚拟板卡行为模型，实现代码在未接触实体机台前的预编译与逻辑校验。

（4）基于边缘AI的量产良率诊断与失效分析：利用AI分析VI源数字化仪捕获的实时波形和采样数据，通过机器学习预测测试设备异常或芯片时序随温度漂移的趋势，实现预警式诊断。

3、课题指标：

（1）大模型对Datasheet中复杂表格和图表的识别准确率≥85%；

（2）DUT原理图辅助设计建议准确率≥75%；

（3）测试程序辅助编程，自动生成代码符合测试要求，具备可实现性；

（4）工控机上运行的轻量化AI模型在不影响机台运行前提下完成实时诊断；

（5）相比传统开发模式，测试程序开发周期缩短不低于50%，代码首检错误率降低70%以上；

四、课题时间安排

整体周期6个月，分为3个阶段：

第一阶段（第1-2个月）：方案提出阶段

l 完成课题需求分析、技术调研，确定总体技术方案和关键技术路线；

l 提交详细的课题实施方案报告，明确团队分工和时间节点规划；

第二阶段（第3-5个月）：开发实施阶段

l 按方案开展软硬件开发、算法优化、系统集成等工作；

l 完成中期进展报告，同步反馈开发过程中的问题及解决措施；

第三阶段（第6个月）：验收结题阶段

l 完成系统调试、性能测试、成果完善，准备结题材料；

l 提交完整的结题材料，参与成果验收答辩。

五、企业可提供支持

软硬件支持：提供ATE机台远程访问权限；提供ATE机台设备接口手册、ATE机台函数编程手册、典型样片LoadBoard参考设计电路、简单demo设计参考、测试程序模板；团队可根据研发需求自行购买其他所需资源。

·   技术支持：开展线上技术支持，内容涵盖ATE机台使用、相关技术要点；建立企业导师微信群，提供技术答疑。

·   其他支持：结题优秀团队可获得企业暑期实习offer；项目中期组织企业研发中心参访；企业资深工程师线上技术研讨会。

六、结题标准

1、可量化的结题标准：

完成一套集成AI解析、代码生成、虚拟调试及数据分析的综合软件平台

选取一款数字逻辑器件（如74/54）或电源管理芯片（如LDO），成功演示从Datasheet读入到测试程序运行的全过程

满足本课题任务中所有课题指标要求（大模型识别准确率≥80%、开发周期缩短≥50%等）

2、接受企业激励的团队数量和分级：1支获奖团队（达到上述所有标准即可获奖，或者完成其中部分内容，完成内容有较高产业化价值也可以获奖）

3、结题奖励金额：1万元

七、结题提交材料

·   软件相关：完整的软件源代码及详细注释、软件安装包及使用说明书

·   技术文档：课题实施方案报告、中期进展报告、结题技术报告（PDF格式）、系统架构设计图、关键算法流程图

·   验证材料：工程验证视频（时长≥10分钟）、测试数据报告（包含各项性能指标测试结果）、结题PPT（用于验收答辩）

·   其他：团队总结报告（说明项目亮点、遇到的问题及解决方法、经验总结）

八、知识产权要求

挑战成果的知识产权归提交该成果的挑战团队所有,赛事组织方和课题出题企业为评估、宣传、赛事展示之目的，享有非独占的、免费的使用权。

获得结题奖励的团队，课题出题企业在同等条件下享有为期2年的优先受让权。

九、参考资料

ATE机台设备接口手册、ATE机台函数编程手册、典型样片LoadBoard参考设计电路、demo设计参考、测试程序模板等。

课题2：集成电路测试智能教学助手开发

一、课题题目

集成电路测试智能教学助手开发（AI驱动ATE测试知识交互与技能培养系统）

二、课题针对对象

年级要求：在校本科生、研究生

专业要求：电子信息工程、微电子科学与工程、计算机科学与技术、人工智能等与课题相关专业

其他要求：具备自然语言处理、机器学习、软件开发（C++/Python）等基础理论知识和实践经验；熟悉RAG架构或大模型应用开发、了解集成电路测试基础者优先；鼓励跨专业组队，确保知识库构建、算法开发与系统设计协同推进

三、课题任务

1、课题背景：集成电路测试（ATE）是多学科交叉的复杂半导体技术，初学者常面临理论与实践脱节的困境。ATE测试系统技术文档信息量巨大，产业积累了大量测试案例和问题解决方法，传统学习方式依赖自主翻阅手册和工程师答疑，效率低下。本课题旨在利用AI技术，将ATE测试系统资料库转化为可实时交互的智能教学助手，帮助学生快速梳理ATE测试系统应用流程、掌握核心技能，提升测试课程学习效率。

2、课题内容：

1) 芯片测试知识库构建（RAG）：深度解析并向量化《芯片测试讲义》《函数编程手册》《硬件编程手册》等资料，建立针对ATE测试课程应用的专业知识库空间；实现对ATE测试设备硬件架构的精准回答（如“2×64 PIN专用资源接口”连接逻辑、“AWG功能函数接口”程序开发技巧等）。

2) 智能问答与调试导师：案例检索（根据学生指令快速检索测试案例，涵盖VI源表板卡电压驱动测量、数字板卡向量加载等场景）；报错诊断（对学生编写的测试程序进行代码检查，针对电压钳制触发、同步精度超标等错误给出修正建议，或提供失效存储器测试信息排障方案）。

3) 考题生成：学习生成（根据学生问答及学习历史记录生成对应考题，巩固学习效果）；专题生成（根据输入的专业知识点生成相关考题，并配备评分系统）。

3、课题指标：

l 知识库覆盖度：对ATE测试核心知识点、硬件架构、编程接口的问答准确率≥95%，无明显“幻觉”答案

l 案例检索响应时间≤3秒，支持关键词、自然语言两种检索方式，检索结果相关性≥90%

l 代码报错诊断准确率≥85%，修正建议可操作性强，能有效解决学生程序问题

l 考题生成贴合学习进度与知识点，评分系统准确率≥90%，可提供针对性错题解析

l 系统支持Web或桌面端交互，界面响应时间≤2秒，并发访问≥50人时无卡顿

l 支持对新增技术文档的快速学习，文档导入后12小时内可实现相关问题的精准问答

四、课题时间安排

整体周期6个月，分为3个阶段：

第一阶段（第1-2个月）：方案提出阶段

· 完成ATE测试知识体系梳理、技术调研（含RAG架构、大模型微调等），确定系统整体架构与技术路线

· 提交详细的课题实施方案报告，明确知识库构建、算法开发、系统开发等模块任务及时间节点

第二阶段（第3-5个月）：开发实施阶段

· 开展知识库构建（资料解析、向量化）、智能问答/调试/考题生成模块开发、系统集成与界面设计

· 完成分模块测试与优化，提交中期进展报告，反馈开发过程中的问题及解决措施

第三阶段（第6个月）：验收结题阶段

· 完成系统整体调试、性能测试与用户体验优化，整理测试数据与分析报告

· 准备并提交完整结题材料，参与成果验收答辩

五、企业可提供支持

1、软硬件支持：提供ATE测试系统硬件手册、ATE测试函数编程手册、集成电路测试案例项目讲义、典型样片LoadBoard参考案例、简单demo测试程序设计参考；提供ATE测试机远程访问权限（用于模型训练与部署）；团队可根据研发需求自主采购其他资源。

2、培训和技术支持：开展线上技术支持，内容涵盖ATE机台使用、相关技术要点；建立企业导师微信群，提供技术答疑。

3、其他支持：结题优秀团队可获得企业暑期实习offer；项目中期组织企业研发中心参访；企业资深工程师线上技术研讨会。

结题标准

1、可量化的结题标准：

l 完成在线AI助教平台开发，支持Web或桌面端交互，具备知识库查询、智能问答、代码辅助、实验指导、考题生成及评分等全部核心功能

l 满足课题所有指标要求（知识库问答准确率≥95%、代码报错诊断准确率≥85%等）

l 提交完整的智能测试脚本库，覆盖芯片测试原理、关键规范、ATE测试系统关键模块编程方法

2、接受企业激励的团队数量和分级：1支获奖团队（达到上述所有标准即可获奖）

3、本课题无经费支持

六、结题提交材料

1、软件相关：AI教学助手完整源代码及详细注释（含知识库构建、算法模型、前端界面等）、软件安装包及使用说明书（含部署教程）

2、技术文档：结题技术报告（PDF格式）、系统架构设计图、算法流程图、知识库构建说明（含数据来源、处理流程）

3、验证材料：系统功能演示视频（时长≥12分钟，清晰展示问答、代码辅助、考题生成等核心功能）、测试报告（含各项性能指标测试数据）、结题PPT（用于验收答辩）

4、其他材料：团队总结报告（说明项目亮点、技术难点攻克过程、经验总结）、用户体验反馈报告（可邀请同专业学生试用并收集建议）

七、知识产权要求

挑战成果的知识产权归提交该成果的挑战团队所有,赛事组织方和课题出题企业为评估、宣传、赛事展示之目的，享有非独占的、免费的使用权。

获得结题奖励的团队，课题出题企业在同等条件下享有为期2年的优先受让权。

八、参考资料

ATE测试系统硬件手册、ATE测试函数编程手册、集成电路测试案例项目讲义、典型样片LoadBoard参考案例、简单demo测试程序设计参考等。

课题3：高精度ADC芯片动态参数分析与校准系统

一、课题题目

高精度ADC芯片动态参数分析与低成本校准系统

二、课题针对对象

年级要求：在校本科生、研究生

专业要求：电子信息工程、微电子科学与工程、自动化、电气工程及其自动化、信号与信息处理等与课题相关专业。

其他要求：具备模拟电路设计、信号处理、嵌入式开发等基础理论知识和实践经验；熟悉ADC芯片工作原理或FFT算法者优先；支持跨专业组队协作。

三、课题任务

1、课题背景：随着高性能模拟芯片国产化进程加快，16位及以上高精度ADC（模数转换器）在工业控制与医疗设备中应用广泛。当前行业对ADC动态参数测试存在成本高、效率低的痛点，本课题旨在利用ATE机台精密源表资源或自研测试板，开发一套低成本、高效率的ADC动态参数测试与校准方案，满足产业应用需求。

2、课题内容：

（1）硬件测试板开发：自研高质量信号发生器电路或利用ATE源表的AWG功能，产生高纯度正弦激励信号，覆盖被测器件动态参数测试需求。

（2）数据同步捕获：借助ATE数字DIO的高速接口和向量存储能力，实时捕捉ADC输出的数字码流，确保数据采集的完整性和同步性。

（3）算法实现：在主控平台上开发FFT分析软件，精准提取SNR（信噪比）、THD（总谐波失真）、SFDR（无杂散动态范围）等关键动态指标。

（4）校准模块开发：设计用于高纯度信号源信号质量测量的校准模块，明确校准范围为0.1kHz-1MHz频率信号，校准流程为每批次测试前自动校准1次，校准耗时≤10分钟。

3、课题指标：

（1）信号源失真度≤-82dB，速率满足被测ADC芯片动态参数测试需求

（2）AWG激励频率与DIO采样频率实现精准同步，相干采样误差≤0.1%

（3）采用噪声消除技术，测试环路中的系统底噪降低支持高精度ADC测试。

（4）SNR测量误差≤1dB，校准模块精度≤±0.1%

（5）成功完成对不少于12位精度ADC芯片的功能与性能验证

四、课题时间安排

整体周期6个月，分为3个阶段：

第一阶段（第1-2个月）：方案提出阶段

l 完成ADC芯片动态参数测试技术调研、需求分析，确定硬件电路设计方案和软件算法路线

l 提交详细的课题实施方案报告，明确各模块开发任务和时间节点

第二阶段（第3-5个月）：开发实施阶段

l 开展硬件测试板、校准模块的设计与制作，完成FFT分析软件开发与算法优化

l 进行模块联调与功能验证，提交中期进展报告，反馈开发问题及解决措施

第三阶段（第6个月）：验收结题阶段

l 完成系统整体调试、性能测试与优化，整理测试数据与报告

l 准备并提交完整结题材料，参与成果验收答辩

五、企业可提供支持

·   软硬件支持：提供ATE机台设备接口手册、ATE机台函数编程手册、典型样片LoadBoard参考设计电路、简单demo设计参考、测试程序模板；支持团队借用必要的测试仪器设备（需提前7个工作日申请，在企业内使用）；团队可自主采购其他研发所需资源。

·   技术支持：线上技术支持（ADC测试原理，FFT算法实现要点）；安排企业技术专家提供线上答疑服务。

·   其他支持：为结题团队成员提供企业实习推荐机会；项目中期组织技术交流会，邀请专家分享ADC测试领域最新技术动态与应用案例。

六、结题标准

1、可量化的结题标准：

1) 完成硬件测试板、FFT分析软件及校准模块的开发，硬件工作稳定、软件运行流畅，无明显卡顿或故障

2) 成功完成对不少于12位精度ADC芯片的功能与性能验证，满足课题所有指标要求

3) 提交的芯片测试报告包含完整的INL（积分非线性）、DNL（微分非线性）、SNR分布曲线，数据准确且分析详实

2、接受企业激励的团队数量和分级：1支获奖团队（达到上述标准择优获奖）

3、结题奖励金额：1万元

七、结题提交材料

·   硬件相关：硬件设计原理图、PCB文件、元器件清单（BOM表）、硬件测试板实物照片及焊接工艺说明

·   软件相关：FFT分析软件源代码及详细注释、软件可执行文件、操作手册（含安装教程和使用步骤）

·   技术文档：结题技术报告（PDF格式）、测试方案、校准流程说明、INL/DNL/SNR分布曲线原始数据及分析报告

·   验证材料：芯片测试完整报告、系统功能视频（时长≥8分钟，清晰展示测试流程与结果）、结题PPT（用于验收答辩）

·   其他：开发过程中的技术笔记、问题解决记录、团队分工与项目管理总结

八、知识产权要求

挑战成果的知识产权归提交该成果的挑战团队所有,赛事组织方和课题出题企业为评估、宣传、赛事展示之目的，享有非独占的、免费的使用权。

获得结题奖励的团队，课题出题企业在同等条件下享有为期2年的优先受让权。

九、参考资料

ATE机台设备接口手册、ATE机台函数编程手册、典型样片LoadBoard参考设计电路、简单demo设计参考、测试程序模板等。

课题4：高速数字接口亚纳秒级时序测量诊断系统

一、课题题目

高速数字接口亚纳秒级时序测量与多通道诊断系统

二、课题针对对象

·   年级要求：在校本科生、研究生

·   专业要求：电子信息工程、微电子科学与工程、通信工程、自动化、FPGA开发、高速信号处理等与课题相关专业

·   其他要求：具备模拟电路设计、数字信号处理、嵌入式开发、高速信号完整性相关基础理论知识和实践经验；熟悉FPGA编程或高精度时间测量技术者优先；鼓励跨专业组队，确保软硬件开发协同推进

三、课题任务

1、课题背景：随着数字芯片时钟频率持续提升，传统数字通道已无法满足信号边缘抖动（Jitter）和传输延时的高精度测量需求。本课题立足工业实际痛点，基于高精度时间测量单元，探索国产ATE机台在高速逻辑芯片测试中的输出诊断能力，聚焦亚纳秒级时间测量精度技术难点，需结合多学科知识设计一套具备多通道时序偏差检测、量化分析、数据可视化的诊断系统，填补行业技术空白。

2、课题内容：

1) 时序偏移分析：开发多通道（支持8通道同时测量）高精度时间测量单元，精确测量芯片的传输延时（TPHL、TPLH）、信号边缘抖动（Jitter）等关键参数，时间参数测量精度≤0.5ns。

2) 逻辑功能校验：结合DIO数字板卡的数字输入/输出功能，完成芯片的真值表功能验证，验证实际器件测试过程中时间参数测量效果。

3) 多通道时序偏差检测：针对高速ATE数字板卡多通道输出偏差，设计专用检测方案，精准测量各通道间的时序时延差异，定位亚纳秒级偏差问题（跨模块应用时同步测量精度）。

4) 时间测量模块接口开发：模块需具备内部自检功能，对外通信接口传输测量结果，确保测量数据的可靠传输。

3、课题指标：

1) 基于FPGA等电路开发的高精度时间测量单元，可稳定完成高速逻辑芯片典型时间参数测试。

2) 频率测量范围100MHz以上，具备周期和占空比测量，精度≤±0.05%。

3) 多通道同时测量时，系统运行稳定，无数据丢失或延迟现象。

4) 数据可视化界面响应时间≤2秒，支持测量结果实时展示与分析。

四、课题时间安排

整体周期6个月，分为3个阶段：

第一阶段（第1-2个月）：方案提出阶段

· 完成高速时序测量技术调研、需求分析，确定时间测量单元架构、FPGA选型及算法路线

· 提交详细的课题实施方案报告，明确各模块开发任务、团队分工及时间节点

第二阶段（第3-5个月）：开发实施阶段

· 开展高精度时间测量单元硬件设计与制作、FPGA程序开发、数据处理算法优化

· 完成模块联调、功能验证及性能测试，提交中期进展报告，反馈开发过程中的问题及解决措施

第三阶段（第6个月）：验收结题阶段

· 完成系统整体调试、性能优化，整理测试数据与分析报告

· 准备并提交完整结题材料，参与成果验收答辩

五、企业可提供支持

1、软硬件支持：提供ATE机台设备硬件手册、ATE机台函数编程手册、典型芯片样片及LoadBoard参考设计电路、简单demo设计参考、测试程序模板；协助联系仪器设备租赁渠道（如需）；团队可根据研发需求自主采购其他资源。

2、技术支持：线上技术支持，聚焦高精度时间测量技术、高速信号完整性设计及FPGA编程要点；建立技术答疑邮箱，线上技术交流会议，邀请企业资深工程师解答技术难题。

3、其他支持：结题优秀团队可获得企业校园招聘绿色通道；项目后期组织企业研发部门参访，与一线工程师交流技术经验；为团队提供行业最新技术动态及应用案例分享。

六、结题标准

1、可量化的结题标准：·

· 完成多通道高精度时间测量单元的设计与开发，实现课题要求的时序偏移分析、信号完整性评估、逻辑功能校验等全部功能。

· 提交时间测量模块设计及验证报告、逻辑器件典型参数测试实例，报告内容完整、数据详实、分析深入。

· 满足本课题指标要求（传输延时测量精度≤0.5ns、频率测量精度≤±0.05%等）

· 数据可视化界面运行流畅，支持测量结果实时展示与数据分析

2、接受企业激励的团队数量和分级：1支获奖团队（达到上述标准择优获奖）

3、结题奖励金额：1万元

七、结题提交材料

1、硬件相关：时间测量模块设计原理图、PCB文件、元器件清单（BOM表）、硬件实物图及焊接工艺说明、阻抗匹配设计验证报告

2、软件相关：FPGA程序源代码及详细注释、数据处理与分析软件源代码及注释、软件使用说明书（含安装教程和操作步骤）

3、技术文档：时间测量模块设计及验证报告、逻辑器件典型参数测试实例、结题技术报告（PDF格式）、算法流程图、系统架构设计图

4、验证材料：多通道时序偏差检测数据记录、频率及占空比测量数据报告、系统功能演示视频（时长≥10分钟，清晰展示测量流程与结果）、结题PPT（用于验收答辩）

5、其他：团队分工说明、项目管理记录、技术难点攻克总结、开发过程中的技术笔记

八、知识产权要求

挑战成果的知识产权归提交该成果的挑战团队所有,赛事组织方和课题出题企业为评估、宣传、赛事展示之目的，享有非独占的、免费的使用权。

获得结题奖励的团队，课题出题企业在同等条件下享有为期2年的优先受让权。

九、参考资料

ATE机台设备接口手册、ATE机台函数编程手册、典型样片LoadBoard参考设计电路、简单demo设计参考、测试程序模板等。

课题5：高速比较器测试系统

一、课题题目

高速比较器关键参数高精度测试与稳定性分析系统

二、课题针对对象

年级要求：在校本科生、研究生

专业要求：电子信息工程、微电子科学与工程、模拟电路设计、电子测量技术等与课题相关专业

其他要求：具备模拟电路基础理论知识和实践操作经验，熟悉比较器工作原理；了解电子测量仪器使用方法、具备测试系统开发经验者优先；支持跨专业组队协作。

三、课题任务

1、课题背景：高速比较器在工业控制、通信、医疗等领域应用广泛，其关键参数（vos、ib、ios、cmrr、psrr、av）的高精度、高稳定性测试是业界公认的技术难题。本课题针对该痛点，聚焦高速比较器核心参数测试，开发一套精准、稳定的测试系统，满足产业对高速比较器性能验证的需求。

2、课题内容：

l 关键参数测试系统开发：针对vos（输入失调电压）、ib（输入偏置电流）、ios（输入失调电流）、cmrr（共模抑制比）、psrr（电源抑制比）、av（开环增益）等关键参数，设计对应的测试电路与数据采集模块。

l 高精度阈值电压测试：重点攻克高速比较器阈值电压精确测试技术，开展稳定性分析，优化测试方案以降低环境干扰对测试结果的影响。

l 测试环境控制：明确测试环境要求为温度25±5℃、湿度20%-50%，设计对应的环境适配方案，确保测试数据的可靠性。

3、课题指标：

l 阈值电压测试误差≤±1mV，连续10次测量结果波动≤±0.5mV

l 各关键参数测试重复性误差≤±2%（vos：±0.5mV、ib：±0.5nA、ios：±0.5nA、cmrr：±1dB、psrr：±1dB、av：±2dB）

l 测试系统运行稳定，连续测试时间≥24小时无故障

l 支持max913、max917、max9041等典型型号高速比较器的参数测试

l 测试数据采集速率≥10次/秒，数据存储容量≥10万条

四、课题时间安排

整体周期6个月，分为3个阶段：

第一阶段（第1-2个月）：方案提出阶段

· 完成高速比较器关键参数测试技术调研、需求分析，确定测试系统整体架构、电路设计方案及测试流程

· 提交详细的课题实施方案报告，明确各模块开发任务、团队分工及时间节点

第二阶段（第3-5个月）：开发实施阶段

· 开展测试电路设计与制作、数据采集模块开发、测试软件编程与算法优化

· 进行分模块测试与联调，提交中期进展报告，反馈开发过程中的问题及解决措施

第三阶段（第6个月）：验收结题阶段

· 完成系统整体调试、稳定性测试与性能优化，整理测试数据与分析报告

· 准备并提交完整结题材料，参与成果验收答辩

五、企业可提供支持

1、软硬件支持：提供ATE机台设备硬件手册、ATE机台函数编程手册、典型芯片样片LoadBoard参考设计电路；团队借用企业测试设备（需提前10个工作日申请，在企业内使用）；团队可根据研发需求自主采购其他资源。

2、技术支持：提供线上技术指导，包括高速比较器测试原理、关键参数测试方法；安排专属技术导师，通过线上会议形式解答团队技术疑问。

3、其他支持：为表现优秀的团队成员提供实习证明；项目中期组织1次技术沙龙，邀请企业资深工程师分享高速比较器应用及测试经验；提供行业内相关技术规范及标准文档。

六、结题标准

1、可量化的结题标准：

l 完成高速比较器测试系统的开发，实现vos、ib、ios、cmrr、psrr、av参数的全面测试，满足课题所有指标要求

l 提交的设计文档和技术报告完整、规范，包含设计方案、测试计划、结果分析等核心内容，数据准确、逻辑清晰

l 测试系统连续运行24小时无故障，关键参数测试重复性误差≤±1%

2、接受企业激励的团队数量和分级：1支获奖团队（达到上述标准择优获奖）

3、结题奖励金额：1万元

七、结题提交材料

1、技术文档：详细的设计方案、测试计划、结题技术报告（包含各关键参数测试结果分析）、设计图纸（原理图、PCB图）及相关计算说明

2软件相关：测试系统控制软件源代码及详细注释、软件操作手册（含安装教程和使用步骤，如有）

3、验证材料：各关键参数测试原始数据、测试数据统计分析表、系统稳定性测试报告（连续24小时运行测试记录）、结题PPT（用于验收答辩）

4、硬件相关：测试电路实物照片、元器件清单（BOM表）、焊接工艺说明

5、其他：团队工作总结、技术难点攻克总结、测试过程视频片段（重点展示关键测试环节）

八、知识产权要求

挑战成果的知识产权归提交该成果的挑战团队所有,赛事组织方和课题出题企业为评估、宣传、赛事展示之目的，享有非独占的、免费的使用权。

获得结题奖励的团队，课题出题企业在同等条件下享有为期2年的优先受让权。

九、参考资料

高速比较器产品数据手册、ATE机台设备接口手册、ATE机台函数编程手册、典型样片LoadBoard参考设计电路、测试程序模板等。

课题6：JESD204串行接口测试与高速转接模块设计

一、课题题目

JESD204串行接口测试与高速转接模块设计（0.5-10Gbps信号验证系统）

二、课题针对对象

年级要求：在校本科生、研究生

专业要求：电子信息工程、微电子科学与工程、通信工程、高速信号处理、嵌入式开发等与课题相关专业

其他要求：具备高速电路设计、SERDES接口技术、信号完整性分析等基础理论知识和实践经验；熟悉高速芯片测试流程或FPGA编程者优先；鼓励跨专业组队，确保硬件开发、测试算法与系统验证协同推进

三、课题任务

1、课题背景：在芯片设计领域，高速接口技术是提升系统性能的关键，JESD204作为基于高速SERDES的数模转换器数据传输接口，已广泛应用于500MSPS以上的高速ADC/DAC芯片，解决了传统接口无法满足高数据吞吐率的痛点。但高速接口测试技术复杂，成为产业面临的核心难题。本课题旨在研发高效可靠的JESD204串行接口测试与转接方案，通过全面测试确保接口性能达标，满足产业应用需求。

2、课题内容：

l 接口转换模块开发：设计JESD204转接电路模块，通过并行IO等实现与高速ADC/DAC的稳定通信，具备通用参数配置能力，适配不同型号高速芯片。

l 高速信号发送功能实现：开发0.5Gbps-10Gbps及以上速率可调的高速信号产生模块，支持码型配置、前后预加重参数可调，满足不同测试场景需求。

l 信号质量测试系统搭建：实现差分电压测量、眼图幅值测试、PSBR误码率统计等功能，覆盖高速SERDES关键信号测试指标。

l Jitter测试分析功能开发：支持Jitter注入、TJ（总抖动）/RJ（随机抖动）测量与分解、相位噪声分析，精准定位信号抖动问题。

l 样片测试验证：选取典型高速ADC/DAC芯片，完成JESD204接口关键参数测试，验证转接模块与测试系统的实用性。

3、课题指标：

l 信号速率覆盖：支持0.5Gbps-10Gbps连续可调，速率切换响应时间≤0.1秒

l 信号质量：差分电压测量精度≤±0.2V，眼图幅值测试误差≤±10%，PSBR误码率测量范围10⁻⁶-10⁻¹²

l Jitter测试：Jitter注入范围0-200ps，TJ/RJ测量误差≤±5%

l 转接模块：与高速ADC/DAC通信成功率≥98%，支持至少2种典型型号芯片适配

l 系统稳定性：连续测试时间≥24小时无故障，测试数据重复性误差≤±2%

四、课题时间安排

整体周期6个月，分为3个阶段：

第一阶段（第1-2个月）：方案提出阶段

· 完成JESD204接口技术调研、需求分析，确定转接模块电路设计方案、测试系统架构及核心算法路线

· 提交详细的课题实施方案报告，明确各模块开发任务、团队分工及时间节点

第二阶段（第3-5个月）：开发实施阶段

· 开展转接电路设计与制作、高速信号生成模块开发、测试算法编程与优化

· 完成分模块测试与联调，提交中期进展报告，反馈开发过程中的问题及解决措施

第三阶段（第6个月）：验收结题阶段

· 完成系统整体调试、样片测试验证与性能优化，整理测试数据与分析报告

· 准备并提交完整结题材料，参与成果验收答辩

五、企业可提供支持

1、软硬件支持：提供ATE机台设备硬件手册、ATE机台函数编程手册、典型芯片样片LoadBoard参考设计电路、demo设计参考；支持团队借用高速信号测试仪器（需提前10个工作日申请，在企业内使用）；团队可根据研发需求自主采购其他资源。

2、培训和技术支持：提供线上技术指导，包括高速比较器测试原理、关键参数测试方法；安排专属技术导师，通过线上会议形式解答团队技术疑问。

3、其他支持：结题优秀团队可获得企业校园招聘绿色通道；项目中期组织企业研发中心参访，与高速接口测试专家面对面交流；提供行业内JESD204接口测试最新技术规范及应用案例。

六、结题标准

1、可量化的结题标准：

l 完成JESD204串行接口转接模块与测试系统的全套开发，实现课题要求的所有核心功能

l 满足本课题所有指标要求（信号速率覆盖0.5-10Gbps、Jitter测量误差≤±3%等）

l 成功完成典型高速ADC/DAC芯片的样片测试，测试数据准确、分析详实

2、接受企业激励的团队数量和分级：1支获奖团队（达到上述标准择优获奖）

3、本课题无经费支持

七、结题提交材料

硬件相关：转接模块设计原理图、PCB文件、元器件清单（BOM表）、硬件实物图及焊接工艺说明、阻抗匹配设计验证报告

软件相关：测试系统控制软件源代码及详细注释、逻辑代码时序分析报告、软件使用说明书（含安装教程和操作步骤）

技术文档：结题技术报告（PDF格式）、设计方案、测试计划、结果分析报告、系统架构设计图、算法流程图

验证材料：样片测试完整数据报告、信号质量测试截图（眼图、误码率曲线等）、Jitter测试分析报告、系统功能演示视频（时长≤10分钟）、结题PPT（用于验收答辩）

其他：团队分工说明、项目管理记录、技术难点攻克总结、开发过程中的技术笔记

八、知识产权要求

挑战成果的知识产权归提交该成果的挑战团队所有,赛事组织方和课题出题企业为评估、宣传、赛事展示之目的，享有非独占的、免费的使用权。

获得结题奖励的团队，课题出题企业在同等条件下享有为期2年的优先受让权。

九、参考资料

JESD204B/C协议官方文档、高速SERDES接口设计指南（IEEE相关标准）、FPGA高速信号生成开源项目（GitHub）、ATE机台公开技术文档。