第六届集创赛——曾益慧创杯

曾益慧创杯

一、赛题方向:OP-AMP芯片的设计验证和测试

二、参赛组别: 仅限A组

三、赛题内容

赛题针对集成电路的测试方向,整个赛题覆盖集成电路Workflow中各环节的验证和测试应用。初赛阶段,参赛者需要在EDA工具中完成指定参数指标的OP-AMP芯片的设计并完成Pre-silicon Verification工作,根据提交的芯片设计和设计验证报告评分晋级分赛区决赛;分赛区阶段,参赛者拿到的OP-AMP芯片样片,在规定时间内现场完成测试电路的搭建,并用IECUBE-3100测试平台对芯片完成Post-silicon Validation工作,根据现场的测试电路搭建以及测试结果评分晋级全国总决赛;全国总决赛阶段,参赛者拿到含有OP-AMP芯片样片的Load Board,现场完成芯片量产测试程序开发,实现芯片的自动化测试,根据现场的量产测试程序以及芯片的自动化量产测试结果评出奖项。

四、初赛环节

完成OP-AMP的设计和Pre-silicon Verification。

对于OP-AMP芯片的设计和验证要求如下:

1. 设计指标:

1) 负载电容:CL = 10pF

2) 相位裕度:60°

3) 开环增益(低频):>60dB

4) 共模输入范围:>1V

5) 输出摆幅(峰峰值):>1.8V

6) 电源电压:3.3V

7) 压摆率:10V/μs

8) 直流功耗:<1mW

9) 单位增益带宽:>5MHz

10) 输出信号:单端输出

2. EDA设计工具不限制,基于Multisim、Cadence工具或其他工具均可以

3. 要求基于EDA设计工具完成设计后,还需进行仿真验证工作,给出仿真验证结果与设计指标的对比分析

4. 要求提交该OP-AMP芯片的设计源文件以及设计和验证报告(Word文档,不限格式)

五、分赛区决赛环节

参赛者拿到OP-AMP芯片样片,在规定时间内现场完成测试电路的搭建,并用IECUBE-3100测试平台对芯片完成Post-silicon Validation。

1. 分赛区决赛环节的说明:

1) 现场提供搭建OP-AMP芯片、搭建电路所需的分立元器件、必备线缆和IECUBE-3100平台;

2) 现场比赛时长2个小时;

六、决赛环节

参赛者拿到含有OP-AMP芯片样片的Load Board,现场基于IECUBE-3100和软件开发环境,完成OP-AMP芯片量产测试程序开发,实现芯片的自动化测试。

1. 决赛环节的说明:

1) 测试系统现场已经搭建好(包括测试对象OP-AMP芯片),参赛队伍在此基础上进行开发即可。测试硬件平台基于IECUBE-3100实现,测试软件框架基于LabVIEW实现;

2) 现场比赛时长2个小时;

七、评分标准:

1. 初赛阶段评分依据

1) 芯片的设计源文件的实现情况

2) 仿真验证结果与设计指标的对比分析

3) 设计和验证报告撰写情况

4) 初赛评分标准细则

初赛评分标准

设计(35%)

原创性(10%)

设计是否为学生原创思想;   

实现方法是否具备创新性;         

是否存在抄袭;

技术方面(25%)

设计是否合理;

技术指标能否满足比赛要求;       

源文件;

仿真验证(45%)

原创性(10%)

是否为学生原创思想;                 

实现方法是否具备创新性;         

是否存在抄袭;

技术方面(35%)

仿真验证的全面性;

与设计指标的对比分析的合理性及深度;                   

设计和验证报告(20%)

文档规范性(10%)

方案文档可读性;
是否存在抄袭;

文档内容完整性(10%)

清晰且完整的覆盖设计和验证过程,逻辑清晰,内容安排得当 ;

2. 分赛区决赛和全国总决赛阶段评分依据

1) 现场硬件搭建、测试结果和测试程序的编写等情况

2) 测试程序的运行情况


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