第九届集创赛杯赛题目——信诺达杯
信诺达杯
一、杯赛题目：数模混合芯片测试
二、参赛组别：仅限A组
三、赛事目标
基于ATE测试程序开发的项目式学习受到了广大师生的认可，第九届将以数模混合器件UC2625为赛题，此芯片属于驱动芯片。加强学生数电、模电理论转化实践的能力，对标工程中IC测试工程师岗位技能。
四、操作环境与内容
基于ST3020集成电路测试实训平台、C语言编程环境，分析电路功能、设计接口板PCB，手动焊接器件卡座及辅材，开发并调试测试程序进行器件验证，出具验证结果。
1.赛题特点：
ST3020集成电路测试系统与国际、国内主流工业测试机采用相同编程语言、测试控制原理一致，能够快速将知识与技能迁移到工业应用。采用自主可控的国产的工业级测试系统作为杯赛平台，提高安全性同时降低教育成本、普及IC测试专业技术，为集成电路产业提供符合岗位要求的IC测试专业人才。
2.覆盖群体：
目前有近百所高校在信诺达平台上开展了产教融合、协同育人活动，开设了基于ST3020集成电路测试实训平台的各类课程。如：生产实习实践、工业级应用测试程开发、产业学院IC测试方向等，将赛事项目式学习融入到本科生、研究生的人才培养体系中。
五、赛程设置
初赛、分赛区决赛、全国总决赛
1.初赛
（1）具体要求如下：
基于ST3020集成电路测试实训平台，完成型号UC2625数模混合芯片的自动化测试方案项目设计，以规定格式文档在截止日期前发送至指定邮箱。
测试方案体现工程项目的整理思路：人、机、料、法、环。包括但不限于项目背景、（IC测试技术在产业应用背景、ATE分类及市场基本情况、组队及队友的基本情况介绍等）；基于ST3020测试系统结构的了解、被测器件datasheet的理解设计外围电路、测试原理、测试方法、编写测试程序等。
测试方案中必须包含：测试项需要尽量多的覆盖UC2625电路（芯片）的参数测试，并写出各指标参数的测试方案和基于指定测试平台的测试程序。
要求：文档框架结构合理、内容逻辑通顺。用一个IC测试工程师看项目的角度去“承接项目”（赛题）交付测试结果（测试方案）。
（2）说明：
方案提交截止时间以官网公布为准；
基础培训为线上，进阶培训为线下，采取预约方式；
测试硬件平台基于ST3020数模混合集成电路测试系统实现；
测试程序基于C语言实现；
免费提供搭建虚拟软件开发环境的服务；
可在线测试和离线编写测试程序，提供多个测试Demo；
初赛晋级的队伍可以学校为单位由指导老师向杯赛企业申请设备使用；
2.分赛区决赛
分赛区决赛指定的芯片与初赛一致，晋级分赛区决赛的队伍须自行设计PCB接口板、采购器件卡座与辅材，自主手动焊接完成接口板的制作，并于比赛现场完成测试及答辩。
（1）要求如下：
携带并验证自制的接口板及测试座（如需测试座自行携带）；
针对该器件手册编写全套完整的测试程序，完成指定器件的自动化测试；
现场实测器件的各项指标均应满足器件手册datasheet要求。
（2）说明：
现场测试初赛时的指定器件；
测试软件框架基于C++实现；
测试硬件平台基于ST3020数模混合集成电路测试系统实现（信诺达提供）；
除现场测试外，参赛团队还需参加答辩，对团队比赛方案及相关情况进行介绍和说明；
具体比赛方案及安排以分赛区决赛通知为准
3.全国总决赛
分赛区决赛胜出的队伍晋级全国总决赛，比赛现场公布被测器件，信诺达提供测试平台、接口板及辅材，参赛团队于比赛现场完成测试及答辩。
（1）要求如下：
针对该器件手册编写全套完整的测试程序，完成指定器件的自动化测试；
现场实测器件的各项指标均应满足器件手册设计要求。
（2）说明：
现场测试器件，由企业统一提供并于现场比赛时公布；
测试软件框架基于C++实现；
测试硬件平台基于ST3020集成电路测试系统实现；
除现场测试外，参赛团队还需参加答辩，对团队比赛方案及相关情况进行介绍和说明；
具体比赛方案及安排以全国总决赛通知为准
（3）赛事资料：
《UC2625器件手册》初赛、决赛芯片
《ST3020集成电路测试系统手册第6版》
资料见文末附件下载
六、评分规则
1.初赛阶段
（1）评分依据
对IC测试技术、ATE市场背景的了解
组队与甄选队友及选题、达成目标的简介
测试程序源文件的实现情况
测试方案的完整性和合理性
（2）评分标准
项目简述，体现项目思维（15%）
测试程序源文件、测试方案设计；（35%）
方案文档规范性；（10%）
包括：方案文档可读性、是否为学生原创思想、实现方法是否具备创新性、是否存在抄袭；
方案设计合理性（40%）
包括：测试方案覆盖的参数；每个测试项测试原理和实现方法、测试方案是否完整、合理。
2.分赛区决赛阶段
（1）评分依据
规定时间内，测试程序的编写情况
测试程序的运行情况
接口板原理图、焊接、连接性测试
（2）评分标准
测试接口板可用性的（15%）
测试方案的完整性，参数的测试原理是否合理以及是否完整可实施（15%）
测试程序完整性，包含的被测芯片的参数的完整性；（30%）
操作规范性，能正确完成芯片操作流程，调用测试程序，运行出测试结果；（25%）
答辩（15%）
3.全国总决赛阶段
（1）评分依据
规定时间内，测试程序的编写情况
测试程序的运行情况
（2）评分标准
测试向量完整性；（30%）
测试程序完整性；（30%）
操作规范性；（15%）
运行出测试结果（10%）
答辩（15%）
七、注意事项
杯赛出题企业有权在同等条件下优先购买参加企业杯赛及单项奖获奖团队作品的知识产权。
大赛组委会对参赛作品的提交材料拥有使用权和展示权。
八、附件：UC2625测试参数说明
因本届赛题被测芯片UC2625数据手册里参数较多，虽ST3020测试系统均可覆盖，但考虑到用ATE测“数模混合芯片”的复杂度，对学生IC测试应用难度大。故对赛题参数测试范围进行说明：
必测参数：功能测试及其他电气参数测试（必测电气参数：如下，按芯片手册中各个模块顺序来描述）。
Overall：
Supply current；
VCC turn-off threshold。
Over voltage /Coast：
OV - COAST hysteresis；
Logic Inputs：
PWM Amp/Corparator：
Error amp voltage gain；
SSTART（Pullup current）。
Current Amp：
Gain；
Peak current threshold；
3、ISENSE1, ISENSE2 offset current。
Tachometer/Brake：
TACH-OUT high level；
Low-Side Drivers：
Voh,–1 mA, down from VCC；
Voh,–50 mA, down from VCC；
Vol, 1 mA；
Vol, 50 mA。
High-Side Drivers：
Vol, 1 mA；
Vol, 50 mA。
Reference：
1、Output voltage；
2、Line regulation；
3、Short circuit current。
选测参数：必测范围之外视同为选测参数。学有余力能完成选测参数的测试，可给予适当加分。(提交方案中请务必标注：必测参数或选测参数)。
说明：因芯片数据手册中有些参数无上下限，不测。
（请参赛团队务必有一名成员添加报名杯赛的答疑钉钉群中，以便及时获取杯赛最新通知及进展，避免遗漏重要信息，群号码及入群方式：点击查看）
